Nanoanalytik an Werkstoffen

Dr. Tarek Lutz
Gruppenleiter Grenzflächen- und Nanoanalytik

+49 7121 51530-900

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Dr. Claus J. Burkhardt
Gruppenleiter Nanoanalytik

+49 7121 51530-55

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Wir prüfen und analysieren Werkstoffe, Materialien, Beschichtungen, Nanopartikel und deren Oberflächen für die Branchen Werkstofftechnik, Maschinenbau, Elektrotechnik, Mikrosystemtechnik mit einer breiten Palette an Analysemethoden. Darüber hinaus unterstützen wir Sie bei der Aufklärung von Phänomenen an inneren Grenzflächen von Werkstücken. Wir verknüpfen alle Methoden systematisch miteinander (korrelative Nanoanalytik), um eine optimale Antwort für jede Fragestellung aus dem materialwissenschaftlichen Bereich geben zu können.

Unsere Ausstattung

• FIB/SEM Gerät Zeiss Auriga 40 mit EDX Und EBSD Detektor
• FIB/SEM Gerät Zeiss Crossbeam 550 mit EDX Detector mit Quorum Aquilo cryo system
• FIB/SEM Gerät Zeiss Crossbeam 350 mit SIMS-TOF und Femtosecondlaser und BSE Detektor
• Jeol ARM 200F High Resolution Transmission Electron Microscope (TEM/STEM) mit CEOS Cs corrector Abbildung- und Sondenkorrektur