Elektronenmikroskopie, Spektroskopie, Analytik

Dr. Tarek Lutz
Gruppenleiter Grenzflächen- und Nanoanalytik
Dr. Claus J. Burkhardt
Gruppenleiter Nanoanalytik

Wir untersuchen Bauteile, Oberflächen, Grenzflächen und Partikel von cm bis in den atomaren Bereich nach akkreditierten Methoden.

Wir bieten ein breites Angebot von Analysesystemen für die Nanoanalytik, welche Größen von cm bis zur atomaren Skala abdecken und Nachweisgrenzen bis zu wenigen ppm erreichen.

Das Nanoanalytikzentrum ist eine Anlaufstelle für Unternehmen mit innovativen, materialtechnischen Fragestellungen und Produktideen.

 

Unsere Leistungen

  • Charakterisierung von Werkstoffen, Beschichtungen und Schichtsystemen
  • Charakterisierung von extrem reaktiven Komponenten mit Inert- und Kryopräparationstechniken
  • Untersuchung innerer Grenzflächen, z. B. Kontakt Elektrode mit Elektrolyt in Batteriezellen, Membranen in Brennstoffzellen
  • Analytik von Nanostrukturen, z. B. in Festkörperelektrolyten
  • Elektronen- und Ionenmikoskopie mit atomarer Auflösung zur chemischen und physikalischen Charaktersisierung

 

Unsere Ausstattung

  • FIB/SEM Gerät Zeiss Auriga 40 mit EDX Und EBSD Detektor
  • FIB/SEM Gerät Zeiss Crossbeam 550 mit EDX Detector mit Quorum Aquilo cryo system
  • FIB/SEM Gerät Zeiss Crossbeam 350 mit SIMS-TOF und Femtosecondlaser und BSE Detektor
  • Jeol ARM 200F High Resolution Transmission Electron Microscope (TEM/STEM) mit CEOS Cs corrector Abbildung- und Sondenkorrektur