Auf der Microscopy Conference in Berlin (01-05 September) ist das NMI mit drei Beiträgen stark vertreten.
Die Konferenz führt die Tradition der Tagungsreihe der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (DGE) fort und zielt darauf ab, neue Studenten auf dem Gebiet der Elektronenmikroskopie, Techniker, die nach neuesten Geräten und wissenschaftlichen Methoden suchen, sowie erfahrene Wissenschaftler und weltweit renommierte Experten für den Gedankenaustausch und die Gründung neuer Kooperationen zu gewinnen.
Die NMI Elektronenmikroskopie ist mit
einem Vortrag von Antje Biesemeier Large volume FIB-SEM tomography of neovascular tissue in the rat eye ,
einem Vortrag von Christof Hofer, Revealing the 3D structure of graphene defects and electron-beam induced out-of-plane dynamics
und einem Poster von Maximilian Becker Microstructural modifications in Josephson junctions created by focused helium ion beam irradiation of Yba2Cu3O7
vertreten.